光譜儀原子或離子可處于不連續(xù)的能量狀態(tài)，該狀態(tài)可以用光譜項(xiàng)來描述；當(dāng)處于基態(tài)的原子或離子吸收了一定的外界能量時(shí)，其核外電子就從基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài)，而處于激發(fā)態(tài)的原子或離子很不穩(wěn)定，經(jīng)由約秒便躍遷返回基態(tài)，并將激發(fā)所吸收的能量以光的形式放出，將這些光按一定的波長(zhǎng)順序排列即為原子光譜

數(shù)顯布氏硬度計(jì)的自動(dòng)轉(zhuǎn)塔結(jié)構(gòu)系統(tǒng)，用戶自定義測(cè)量目標(biāo)相匹配的硬質(zhì)合金壓頭、試驗(yàn)力、保持時(shí)間后進(jìn)行開始試驗(yàn)，測(cè)量完成后，無須移動(dòng)工件，自動(dòng)轉(zhuǎn)換，CMOS直接捕獲壓痕圖像，利數(shù)字成像技術(shù)在壓痕圖像上自動(dòng)尋找符合壓痕特點(diǎn)的像素，高速分析，自動(dòng)讀數(shù)。對(duì)標(biāo)準(zhǔn)塊壓痕、有陰影壓痕、背景模糊壓痕、橢圓壓痕均自動(dòng)測(cè)量。

直讀火花光譜儀 原子或離子可處于不連續(xù)的能量狀態(tài)，該狀態(tài)可以用光譜項(xiàng)來描述；當(dāng)處于基態(tài)的原子或離子吸收了一定的外界能量時(shí)，其核外電子就從基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài)，而處于激發(fā)態(tài)的原子或離子很不穩(wěn)定，經(jīng)由約秒便躍遷返回基態(tài)，并將激發(fā)所吸收的能量以光的形式放出，將這些光按一定的波長(zhǎng)順序排列即為原子光譜

輪廓儀 本儀器測(cè)量原理為直角坐標(biāo)測(cè)量法，即通過X軸、Z1軸傳感器，測(cè)繪出被測(cè)零件的表面輪廓的坐標(biāo)點(diǎn)，通過電器組件，將傳感器所測(cè)量的坐標(biāo)點(diǎn)數(shù)據(jù)傳輸?shù)缴衔籔C機(jī)，軟件對(duì)所采集的原始坐標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)學(xué)運(yùn)算處理，標(biāo)注所需的工程測(cè)量項(xiàng)目。 此款儀器已進(jìn)口儀器性，儀器符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T3505-2000, GB/T6062-2001, GB/T10610-1998,

合金直讀光譜儀原子或離子可處于不連續(xù)的能量狀態(tài)，該狀態(tài)可以用光譜項(xiàng)來描述；當(dāng)處于基態(tài)的原子或離子吸收了一定的外界能量時(shí)，其核外電子就從基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài)，，將這些光按一定的波長(zhǎng)順序排列即為原子光譜；由于特定元素可產(chǎn)生一系列不同波長(zhǎng)的光，通過識(shí)別待測(cè)元素的特征光譜存在與否即可進(jìn)行定性分析，根據(jù)該波長(zhǎng)光的強(qiáng)度進(jìn)行定量分析。 激